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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測量儀產(chǎn)品參數(shù)： 信號源： DDS數(shù)字合成信號 頻率范圍： 100KHZ-1600MHZ Q分辨率： 4位有效數(shù)，分辨率0.1 電感測量范圍： 1nH～140mH,；分辨率0.1 信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù) Q值測量范圍： 1～1023自動/手動量程換檔

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品概述： 介電常數(shù)測試儀采用數(shù)字液晶顯示，是通過GB1409中的Q表法測試固體/液體絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的分析儀器。它以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低值，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便

LJD-C型絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術：DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到160MHz。

LJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

QS37a型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,主要可以測量各種絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（C）及介電常數(shù)(ε)。